2. Schwerpunkttreffen der NINa

Nanoanalytik für Industrie und Forschung

07. Dezember 2005, 14.00 - ca. 19.00 Uhr

Gastgeber: Prof. Dr. Wolfgang Jäger - Lehrstuhl für Mikrostrukturanalytik, Technische Fakultät der CAU Kiel

- 14:00 - 15:00 Uhr Centrum für Materialanalytik (CMA) - Rundgang durch die Labore

- 15:00 - 18:00 Uhr Vortragsveranstaltung

- ab 18:00 Uhr Diskussionen - Snacks - Getränke

Zeit	Redner	Titel
15.00	Prof. Dr. F. Faupel Prof. Dr. W. Jäger	Begrüßung und Einführung
15.10	Prof. Dr. R. Wiesendanger - Universität Hamburg	Nanoanalytik mittels Rastersonden-Methoden: Von der Grundlagenforschung zur industriellen Anwendung
15.40	Prof. Dr. H. P. Oepen - Universität Hamburg	Hochfokussierte Ionenstrahlen (FIB) in der Oberflächen- und Dünnfilmtechnik
16.10	Prof. Dr. W. Jäger - Universität Kiel	Nanoanalytik mit analytischer Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) für Forschung und Industrie
16.40	Kaffepause
17.00	Dr. V. Zaporojtchenko - Universität Kiel	Chemische Analytik mit Photoelektronenspektroskopie
17.30	Dr. Udo Riss - DRE-Dr. Riss Ellipsometerbau	Ellipsometrie - Vermessung dünner Schichten

Download der Einladung als PDF

Vortragsort:

Technische Fakultät der Christian-Albrechts-Universität zu Kiel
Kaiserstr. 2
24143 Kiel

Vortragsraum 'Aquarium' (Gebäude D)

Anfahrtsbeschreibung

Rundgang durch die Labore

Es besteht die Möglichkeit zum Rundgang durch die Labore des Centrums für Materialanalytik (CMA) der Technischen Fakultät mit den Methoden Transmissionselektronenmikroskopie TEM, Rasterelektronenmikroskopie REM, Photoelektronenspektroskopie XPS und konfokale Mikroskopie für die Oberflächentechnik.

Optional besteht die Möglichkeit zur Besichtigung weiterer Labore der Arbeitsgruppen der Materialwissenschaft.
Weitere Informationen dazu unter www.tf.uni-kiel.de.